電壓擊穿試驗(yàn)儀,電阻率測試儀,介電常數(shù)測試儀,漏電起痕試驗(yàn)儀,耐電弧試驗(yàn)儀、介電溫譜測量系統(tǒng)、熱刺激電流測量系統(tǒng)
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產(chǎn)品詳細(xì)頁
全自動真密度分析

全自動真密度分析

  • 產(chǎn)品型號:ZKZMD-10
  • 更新時間:2024-10-22
  • 產(chǎn)品介紹:新款GCZMD系列全自動真密度分析儀應(yīng)用阿基米德原理—?dú)怏w膨脹置換法,利用小分子直徑的惰性氣體(He)在一定條件下的玻義爾-馬略特定律(PV=nRT),通過測定由于樣品測試腔放入樣品所引起的樣品測試腔氣體容量的減少來測定樣品的真實(shí)體積,從而得到其真密度,真密度=質(zhì)量/真實(shí)體積。
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產(chǎn)品介紹

全自動真密度分析原理

應(yīng)用阿基米德原理—?dú)怏w膨脹置換法,利用小分子直徑的惰性氣體(He)在一定條件下的玻義爾-馬略特定律(PV=nRT),通過測定由于樣品測試腔放入樣品所引起的樣品測試腔氣體容量的減少來測定樣品的真實(shí)體積,從而得到其真密度,真密度=質(zhì)量/真實(shí)體積。

氣體膨脹置換法是以氣體取代液體測定樣品所排出的體積。此法排除了浸液法對樣品溶解的可能性,具有不損壞樣品的優(yōu)點(diǎn)。因?yàn)闅怏w能深入樣品中極小的孔隙和表面的不規(guī)則空陷,因此測出的樣品體積更接近樣品的真實(shí)體積,從而可以用來計(jì)算樣品的密度,測試值也更接近樣品的真實(shí)密度。

儀器的測試系統(tǒng)由樣品測試腔和基準(zhǔn)腔構(gòu)成。測定樣品真密度時,儀器自動采集基準(zhǔn)腔的壓力P1及體積V1并記錄;將一定未知體積的樣品V樣品放入已知體積V2的樣品測試腔,向樣品測試腔注入一定量的氣體并記錄穩(wěn)定后的壓力P2;將樣品測試腔與基準(zhǔn)腔連通并記錄穩(wěn)定后的壓力P3,根據(jù)平衡穩(wěn)定后的壓力值和相關(guān)已知的體積V1、V2即可計(jì)算出待測的樣品體積V樣品,再由樣品的質(zhì)量和體積計(jì)算出樣品的真密度。

儀器特點(diǎn)

(1)適應(yīng)塊狀、粒狀、粉狀、液體等不同樣品測量需要;

(2)自動重復(fù)測量狀態(tài)可進(jìn)行重復(fù)運(yùn)行;

(3)壓力平衡時間可根據(jù)用戶自行設(shè)定,設(shè)置靈活;

(4)分析運(yùn)行一次的時間僅幾分鐘;

(5)對于用戶選擇的循環(huán)次數(shù)和定時的清洗,樣品準(zhǔn)備/清洗狀態(tài)有脈沖信號(加壓/減壓);

(6)自帶RS485、RJ45和微型打印機(jī),以便于把數(shù)據(jù)傳到打印機(jī)(TMS型號)或PC上(PNS型號);

(7)有用戶可選的*壓力,可消除分析樣品變形所帶來的危害;

(8)自動打印數(shù)據(jù)報(bào)告(TMS款),包括分析結(jié)果的統(tǒng)計(jì),樣品號和運(yùn)行條件。

全自動真密度分析產(chǎn)品優(yōu)點(diǎn)

(1) 集成式模塊:電磁閥、傳感器、樣品池采用一體化設(shè)計(jì),減少死體積,結(jié)構(gòu)緊湊,密封性好;

(2) 溫場均勻技術(shù):采用無管路模塊化設(shè)計(jì),環(huán)境溫度與模塊溫度保持平衡,氣體溫場均勻;

(3) 智能算法:壓力智能探測,流量控制穩(wěn)定,*限度減小外界氣瓶壓力波動的影響;

(4) 腳本設(shè)計(jì):高級用戶可根據(jù)測試需求更改腳本,自行設(shè)計(jì)操作流程;

(5) 打印功能:(TMS版)設(shè)計(jì)了測試結(jié)果輸出功能,方便用戶結(jié)果存檔與數(shù)據(jù)備份,包括電子數(shù)據(jù)與文檔數(shù)據(jù);

(6) 流程指示:采用C語言開發(fā)的嵌入式軟件,操作流程清晰,數(shù)據(jù)實(shí)時詳盡;

(7) 24位采集精度:底層數(shù)據(jù)采集采用24位AD模塊;

(8) 標(biāo)樣分析:可提供PVC、鋁、銅材質(zhì)進(jìn)行密度標(biāo)定;

(9) 科技外觀:外觀結(jié)構(gòu)簡潔流暢,造型新穎時尚,極富科技感。

應(yīng)用領(lǐng)域

研究和質(zhì)量控制:陶瓷、催化劑、濾材、核燃料、石油化工、土壤、肥料、炭黑、焦炭、纖維、礦物、制藥、化妝品、水泥、粉末食品、干燥劑、粉末金屬、離子交換樹酯、硅膠、氧化鋁、固體泡沫等。

可以用來剔除不適用的材料或者設(shè)計(jì)。聚合物絕緣子的老化過程一般不會同時造成容易測量的引起老化的逐漸變化的特征。絕緣子從“性能良好"到“使用壽命結(jié)束"的璽化,經(jīng)常是迅速而沒有事先預(yù)兆的,并有可能被類似前面提及的鹽霧試驗(yàn)中所得到蝕損深度,或強(qiáng)紫外線所造成的表面開裂觀察到。這種變化的時間和速度依賴于很多參數(shù),包括絕緣了的材料、設(shè)計(jì)以及絕緣于的運(yùn)行環(huán)境。因此,對于用這樣的老化試驗(yàn)預(yù)測絕緣于的真實(shí)壽命,僅當(dāng)?shù)玫皆谙嗤蛳嗨频沫h(huán)境下相同或相似的絕緣子的關(guān)于損傷或降解的數(shù)據(jù)冇效時,才是有訂能的。因此,這些試驗(yàn)的應(yīng)用是為了給出設(shè)計(jì)和材料的特性與比較苛刻而拒嚴(yán)酷的環(huán)境中呈現(xiàn)的應(yīng)力之間關(guān)系的-般信息。重要的是,要注意到通過標(biāo)準(zhǔn)的“試驗(yàn)結(jié)束"時的破壞水平在大部分運(yùn)行環(huán)境下是不能接受的。

例如,在相關(guān)試驗(yàn)(9.3.-3,附錄A,附錄B)中"[到3mm的蝕損深度在試驗(yàn)中是可以接受的,但絕緣子運(yùn)行中這不能被接受.,在絕緣*的設(shè)計(jì)壽命中也不希望發(fā)生。進(jìn)一步的信息,見C1GRE技術(shù)手冊142冊:“聚合物絕緣子的i'|然和人工老化以及污穢試驗(yàn)"。表D.1給出了聚合物絕緣子試驗(yàn)的推薦。第9章中所規(guī)定的設(shè)計(jì)試驗(yàn),目的是檢驗(yàn)制造者所用的制造方法、材料及設(shè)計(jì)的適宜性。由于它們涉及設(shè)計(jì)初和長期性能的所有主要方面的研究,因此花費(fèi)時間和費(fèi)用是必須要的。

為了避免不必要的試驗(yàn),a)為了產(chǎn)品的改進(jìn),允許絕緣子的設(shè)計(jì)有一定自由度的變化,每次絕緣子設(shè)計(jì)有較小變化時,并不用重復(fù)所有設(shè)計(jì)試驗(yàn);b)絕緣子可分類,設(shè)計(jì)試驗(yàn)在每一類中有代表性的絕緣子上進(jìn)行。


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